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  DYTRAN 3234系列通用加速度計 2021-07-07 16:57:33

  DYTRAN? 3234系列是一款單軸IEPE加速度計，具備獨具特色的立方體設計方案，敏感度范圍為10–500MV/g。DYTRAN3234系列使用瓷器裁切傳感元器件，包裝在穩(wěn)固的鈦殼中，重12克。電池為基礎性隔離，以防止電磁干擾/接地回路影響。

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  New?Imaging?Technologies用于半導體檢測的NIT成像解決方案 2022-03-11 17:09:27

  ?在過去的數(shù)年里，SWIR波段被公認是半導體器件測試的最好波長范圍之一。不論是晶圓或太陽能發(fā)電板上的裂痕和缺陷，或是集成電路的故障分析，InGaAs波長（900m-1700nm）成像設備主要用于透視硅內部。